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史密斯检测提出的X-RACE扫描仪完成各种安全应用

埃德伍德,马里兰州——史密斯检测公司宣布推出最新的X射线检测系统HI-SCAN 5030C,该系统具有最佳的尺寸、持续时间和便携性,填补了商业安全控制解决方案的一个关键空白。键盘重新设计了滑动图像操作键和滑动输入/输出传送器。"在微博上留言与领先的HiTraX 3电子平台相结合,为了获得更好的图像质量,HI-SCAN 5030C被特别开发出来,以改善从法院到公司办公室的各种情况下的安全控制。由于其紧凑的尺寸和轻量化的设计,该系统完美地适合于检查站和配套的分拣室。减震器使HI-SCAN 5030C可以在不需要重新校准的情况下运输到不同的位置,以获得最佳的灵活性。HI-SCAN 5030C是史密斯检测公司最紧凑的X射线检测设备,提供多种选择,如不锈钢车轮、手套箱、24小时监视器"、键盘重新设计,带有折叠图像操作键和传送带。本通知的原文以原文写成,为真实文本。译文仅为方便读者而提供,必须参考原文,这是唯一合法有效的译文。